ZXl-820涂层测厚仪的技术参数及概述_新闻动态

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ZXl-820涂层测厚仪的技术参数及概述添加时间：2024-6-10 11:09:19

ZXL-820涂层测厚仪概述：

本仪器采用磁性测厚方法，可无损伤的检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。

技术参数：

测量范围：(0～1250) μm

分辨率：0.1μm

示值精度：±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度

显示方法：128*64点阵液晶LCD

存储容量：可存储5组（每组Z多100个测量值）测量数据

单位制：公制（μm）、英制（mil），可自由转换

工作电压：3V（2节5号碱性电池）

持续工作时间：大于200小时（不开背光时）

通讯接口：USB通讯接口，可与PC机连接、通讯

外形尺寸：115mm×67mm×31 mm

整机重量：340g

标准配置：

主机 1个

测头 1个

校准片 5片

校零基体 1个

电池 2节

说明书 1本

保修卡 1个

仪器箱 1个